Ausgewählte Suchfilter
- Jahr
Suche verfeinern
-
Teilbibliothek
- Stammgelände (1)
-
Dokumenttyp
- (mit) Illustration (1)
- Buch (1)
- Dissertation, Hochsc… (1)
-
Fach
- Elektrotechnik (1)
- Messen, Steuern, Regeln (1)
- Physik (1)
-
Schlagwort
- Akustisches Mikroskop (1)
- Dickenmessung (1)
- Mehrschichtsystem (1)
- Schichtdicke (1)
-
Sprache
- Deutsch (1)
-
Verfasser
- Krause, Jens (1)
Volltextzugriff auf E-Medien
Authentifizierung: erforderlich
TUM-Mitarbeiter und Studierende:
Externe Kundinnen und Kunden:
Lesesaal-PCs nutzen
Ihre IP-Adresse: 3.145.29.40
Werkzeugkasten
- Fachliche Suche mit der TUM-Systematik
- Standorte ermitteln mit der Standortliste
- OPAC-FAQ
Nicht das Richtige gefunden?
chat loading...